Microestructural characterization of materials / David Brandon, Wayne D. Kaplan
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: John Wiley & Sons,Edición: 2nd. edDescripción: 536 p. ; il. ; 24 cmISBN: - 9,78E+11
- B 72
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libros
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Facultad Regional Concepción del Uruguay | Disponible (Sin Restricciones) | 13639 |
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