Microestructural characterization of materials / David Brandon and Wayne D. Kaplan.
Tipo de material:
TextoIdioma: Inglés Series Quantitative software engineering seriesDetalles de publicación: West Sussex, England : John Wiley & Sons, c2008.Edición: 2nd edDescripción: xii, 536 p. : il., gráf., fot., tablas ; 25 cmTipo de contenido: - texto
- sin mediación
- volumen
- 9780470027851
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Ubicación en estantería | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libros
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Facultad Regional Concepción del Uruguay | Grupo de Investigación | GRUPO DE INVESTIGACIÓN/GIS | 620 ; B 72 ; 13639 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible (Sin Restricciones) | 13639 |
Contenido: p. v-x.
Apéndices: p. 517-521.
Índice: p. 523-536.
Problemas, resumen, ejemplos resueltos: al finalizar cada capítulo.
Bibliografía al finalizar cada capítulo.
1. The concept of microstructure.
2. Diffraction analysis of crystal structure.
3. Optical microscopy.
4. Transmission electron microscopy.
5. Scanning electron microscopy.
6. Microanalysis in electron microscopy.
7. Scanning probe microscopy and related techniques.
8. Chemical analysis of surface composition.
9. Quantitative and tomographic analysis of microstructure.
Este libro es una introducción a los conocimientos necesarios para evaluar la microestructura de los materiales de ingeniería y a los métodos experimentales utilizados para tal fin. Explora la metodología de caracterización de materiales bajo los tres apartados de estructura cristalina, morfología microestructural y microanálisis
Para estudiantes universitarios y de posgrado de ciencia de los materiales, ingeniería de materiales y química de materiales. Además de ingenieros calificados e investigadores más avanzados.
En idioma inglés.
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